的FilmTek™2000自动化台式光谱反射计提供快速、可靠和准确的层厚度和光学特性的测量几乎任何未成形的薄膜5 nm - 150µm厚,与拥有成本远远低于竞争自动化台式反射计系统。gydF4y2Ba
以最精简的光谱反射计设计,FilmTek 2000结合DUV-NIR光纤分光光度计,自动化阶段,计算机,和先进的FilmTek软件以确保操作直观和容易获得可靠的信息样本的属性。FilmTek 2000的标准配置平衡方便、可靠性和速度,同时使完整的自动化、2 d和3 d地图的目标参数,和同时测定多个电影特征在不到1秒/测量站点。gydF4y2Ba
可以同时测定:gydF4y2Ba
几乎所有的半透明的薄膜厚度从低于100,约150µm可以测量精度高。典型的应用领域包括:gydF4y2Ba
与灵活的硬件和软件,可以很容易地修改以满足独特的客户需求在学术、研发和生产环境。gydF4y2Ba
膜厚度范围gydF4y2Ba | 5 nm 150µmgydF4y2Ba |
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膜厚度精度gydF4y2Ba | 1000±1.5 NIST可追踪的标准氧化1µmgydF4y2Ba |
光谱范围gydF4y2Ba | 190 nm - 1700 nm (240 nm - 1000 nm标准)gydF4y2Ba |
测量光斑大小gydF4y2Ba | 2毫米- 5毫米(5毫米标准)gydF4y2Ba |
样本大小gydF4y2Ba | 2毫米- 300毫米(150毫米标准)gydF4y2Ba |
光谱分辨率gydF4y2Ba | 0.3 - 2海里gydF4y2Ba |
光源gydF4y2Ba | 监管deuterium-halogen灯(2000小时寿命)gydF4y2Ba |
探测器类型gydF4y2Ba | 2048像素索尼冷却滨松InGaAs CCD线阵CCD阵列/ 512像素阵列(NIR)gydF4y2Ba |
电脑gydF4y2Ba | 多核处理器操作系统Windows™10gydF4y2Ba |
测量时间gydF4y2Ba | < 1秒/站点(例如,氧化膜)gydF4y2Ba |
数据采集时间gydF4y2Ba | 0.2秒gydF4y2Ba |
电影(年代)gydF4y2Ba | 厚度gydF4y2Ba | 测量参数gydF4y2Ba | 精度(gydF4y2Ba1σgydF4y2Ba)gydF4y2Ba |
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氧化/ SigydF4y2Ba | 200 - 500gydF4y2Ba | tgydF4y2Ba | 0.5gydF4y2Ba |
500 - 10000gydF4y2Ba | tgydF4y2Ba | 0.25gydF4y2Ba | |
1000年,一个gydF4y2Ba | t、ngydF4y2Ba | 0.25 / 0.001gydF4y2Ba | |
氮化硅/硅gydF4y2Ba | 200 - 10000gydF4y2Ba | tgydF4y2Ba | 0.25gydF4y2Ba |
光刻胶/ SigydF4y2Ba | 200 - 10000gydF4y2Ba | tgydF4y2Ba | 0.5gydF4y2Ba |
晶硅/氧化/ SigydF4y2Ba | 200 - 10000gydF4y2Ba | tgydF4y2Ba | 0.5gydF4y2Ba |