高分辨率原位SPM成像
优越的纳米机械测试结果
力量的先锋原位扫描探针显微镜(SPM)成像,直接夫妇纳米机械与高分辨率SPM nanotribological表征成像。现场SPM技术利用相同的探针图像样本表面是用来进行测试,允许图像快速聚集现场没有留下测试位置。力量的原位SPM成像本质上增加精度,可重复性和速度的测试以来让其它成像方法,如操作并行AFM,需要额外的时间在样品转移到另一个成像位置和提出了重大的挑战与可靠定位所需的测试网站。
10μm扫描大小、1024 x 1024分辨率的地形图像的陨石样本。
扫描垂直和水平轴的尺寸和分辨率可以独立改变:30μm x 30μm扫描大小,分辨率256 x 256(上);x 30和60μmμm扫描大小、512 x 256分辨率(底部)。
纳米精度测试位置准确性
力量的原位SPM成像提供了一种成像分辨率相同的长度范围测试,使真正在纳米尺度上定量和准确的描述。检测前SPM成像测试网站可以直接测量的表面形态(如微观结构、地形、粗糙度)和纳米分辨率和避免前表面缺陷检测是至关重要的。高精度测试位置精度±10 nm多相材料的简化测试,并允许直接相关的微观结构(如形状、大小或分布域)力学性能。雷竞技网页版此外,测试后SPM成像提供了定量表征材料的变形行为(如骨折、堆积)和验证测试的位置。
分辨率4096 x 4096
力量的SPM +使纳米机械SPM成像功能,以一个全新的水平。与SPM +扫描尺寸和图像分辨率是完全可定制,以满足您特定的样本分析的需要。
