无机涂料的精确应用重要性高当生产机械,电子或光学组件。层使用光谱仪分析是一个非常好的工具,确保涂料和层形成。
光谱仪可用于描述层通过确定其厚度同时识别和量化的元素出现在一层。这使得XRF-based分析一个强大的工具优化涂料层,允许其属性精细目标应用程序。组件涂层在生产过程中还必须质量检查,以确保正确的涂料厚度和宪法的目标使用。
这些过程的自动化带来好处的有效性和效率。的XMS从力量纳米分析,是专为自动光谱仪分析生产和质量控制。XMS可用于自动分析和检查组件层和涂料的生产,带来许多行业效率储蓄和提高质量。
分析薄层或涂层是一种常见的任务micro-XRF谱分析。的非破坏性的操作方法和x射线穿透到样本的能力和获取信息材料表面下使这种方法有吸引力为目的的分析单个或多个层。
这里讨论的特殊挑战分析样品是两层(铝)和基质(硅)光元素,这就需要测量在真空下,否则空气样本之间的光路和探测器吸收低能量辐射的样本。此外,这个应用程序使用Auto-Point比较手动和自动分析。结果表明,层厚度可以精确地确定micro-XRF(M4龙卷风),这是与直接测量结果证实了一层断裂边缘扫描电子显微镜。
大多数加工步骤引入残余应力可以影响生产组件的性能。压应力可以改造成一个金属镀层,用于抵抗裂纹扩展,而可以利用拉伸应力增强半导体的导电率。紧张的材料表现出原雷竞技网页版子间距的变化,可以检测到x射线衍射(XRD)和相关的压力通过弹性常数。
简单地说,拉曼光谱是其中一个最强大的工具吗碳同素异形体分析。自然,这是go-to-tool化学蒸汽沉积类金刚石碳。
它允许区分的大量碳类型和结构提供了必不可少的信息,如重要的sp2/ sp3比率。此外,拉曼显微镜能够获得的拉曼光谱亚微米范围。
红外光谱可用于层厚度-确定这样的电影。对于较小的结构微米数量级,红外光谱显微镜提供优秀的结果,使可靠的层厚度决定。
这样做,通过使用反射测量光transparend钻石。这将导致所谓interference-induced边缘。这些都是引起的光被反射的表面涂料层和涂层下面的衬底。
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