矿物勘探的岩心扫描
元素与矿物扫描
核心扫描
勘探钻探将未知变为已知。这个“核心”活动可能是矿物勘探工作流程中最有价值的资产之一。在钻石钻探过程中提取的岩心通常由熟练的地质学家描述，并伴随着地质技术特征进行额外的地球化学和矿物分析。
Bruker正在开拓新技术和方法，从岩心中提取更多有用和可扩展的信息，为地面和勘探办公室的地质学家提供帮助。作为地下的关键环节，岩心分析是表征矿化蚀变产物(从矿体尺度到亚晶粒尺度)的最佳机会，为精细矿石系统过程模型的发展提供了条件。非破坏性和最小破坏性工具可以表征元素浓度、矿物学和纹理，从而构建三维地下矿床模型，并约束预测勘探策略。
矿物和元素的无损连续岩心分析
岩芯无损元素和矿物测井为识别甜点、矿化和蚀变提供了客观的高分辨率分析数据。Bruker便携式和手持式分析仪用于在野外或岩心岩洞收集深度登记的地球化学和矿物学数据。这些数据的高分辨率意味着即使是很小的矿化或蚀变远景区也可以在没有贫化的情况下识别出来，从而改善了对矿石系统的远端识别。现场收集的数据提供了近乎瞬时的地球化学，可用于:
- 矿物和矿物关联物的客观快速鉴定
- 确定主要目标和指标要素的趋势
- 根据矿化或蚀变划分目标层
- 岩心地球化学参比提高了与其他孔的相关性
- 实时指导钻井程序，优化钻孔布置，减少发现和充分表征矿床所需的孔数
- 高分辨率的初步分级鉴定，减少了送到化验实验室的样品数量
空间地球化学
用于快速可视化岩心元素和矿物测绘的Micro-XRF
岩心中主、次、微量元素空间分布的可视化有助于理解矿化和蚀变过程。Micro-XRF提供分辨率小于20µm的大样本地球化学制图，可以将特征置于地质过程框架中。自动矿物学添加到微xrf是一个新兴领域，有望增加快速和可重复的岩石学表征的新维度。布鲁克的核心分析M4龙卷风可在现场或岩心室设置一系列仪器进行快速数据收集:
- 快速扫描最少准备表面的样品材料，不需要样品涂层或抛光
- 支持一种基于数据的方法，为需要更昂贵的样品制备的方法选择采样位置
- 矿化和蚀变的快速评估，以限制正在进行的近实时概念勘探模型迭代
- 通过在可比尺度上测量元素浓度，为高光谱技术提供“地面真相”和补充数据
岩芯和地质样品的大比例尺成分制图
地质学在大范围内发生。通过测量微小的夹杂物和细矿脉，可以确定岩石的科学价值或存在哪些与采矿有关的元素。然而，矿物学在几米(如果不是几公里的话)内逐渐变化的更大图景，讲述了岩石的形成和地质历史。
钻孔岩芯和其他地质样品元素组成的差异可用于确定样品值、地质历史和形成过程的信息。
元素测图可以识别样品中不同类型的矿物，以及矿脉等现象的位置和测量，可用于确定样品的价值和样品在其生命周期中经历的不同地质条件。
Micro-XRF可以对钻孔岩心和地质样品进行高分辨率的元素测绘。的使用M6的地方该系统的采样面积为800 x 600毫米²，便于一次性对多块钻孔岩芯进行无损分析或对大样本进行全面扫描，使地质学家能够在不破坏或损坏样品的情况下获得关于样品组成或历史的丰富信息。
下面的实验室报告描述了使用M6 JETSTREAM对来自Vredefort Dome(南非一个300公里宽的撞击坑)的大型花岗岩样品进行成分分析。
岩石详细表征
矿物和结构的微观分析和自动矿物学表征
许多矿化过程在微米尺度上留下了记录。扫描电子显微镜(SEM)表征是在这个尺度上可视化和分析过程的最准确的方法。布鲁克自动化矿物学和大面积元素测绘解决方案的自动化EDSx射线映射与后向散射选举(BSE)成像，提供分辨率低至~1 μ m的详细分析。点击这里了解更多关于岩石表征的微分析勘探。
三维结构
三维矿物关系与高分辨率三维x射线显微镜
传统的岩石矿物分析在2D中查看3D世界。在光学显微镜、sem和micro-XRF中对薄片和核心板的分析都需要从单个平面进行外推来理解3D物体。对岩心的高分辨率3D x射线显微镜研究可以进行非破坏性的三维观测。力量的SKYSCAN系列x射线显微镜与其他方法一起工作，产生关于地质特征的形状、大小和相互关系的详细信息。当与SEM或micro-XRF的自动化矿物学相结合时，就有可能在微米尺度上建立全面的矿石分布模型，更好地定义矿化过程，预测粉碎和其他处理行为。
