注意Elementar e Estrutural de通过X

一个力量desenvolve e以instrumentos对位注意estrutural e elementar nas领域da investigacao de材料ciencias da维达e controlo de qualidade。作为nossa表示solucoes abrangem Difracao de通过X (XRD) sensivel granel表面e材料,一个cristalografia biologica e quimica,注意de Fluorescencia de通过X(光谱仪)de energia dispersiva e em comprimento de昂达Microscopia de通过X 3 d (XRM) Espetroscopia de Emissao Otica (OES) e注意de combustao e fusao de气体。

Os sistema力量enfatizam flexibilidade modularidade e。Oferecemos一但ampla variedade德丰特斯、oticas环境de amostra e detetores disponivel, juntamente com o aconselhamento especializado na configuracao sistema理想。O sistema basico颇得ser reconfigurado ou atualizado对位satisfazer requisitos evolutivos。

作为nossa表示solucoes圣faceis de operar atraves da utilizacao做TouchControl e da automacao de嗯botao。Construimos instrumentos robustos e compactos对位环境adversos。一个formacao profissional e o servico含量mundial estao implementados对位apoiar os nossos客户机。