TXRF是如何工作的?

TXRF的工作原理是基于全反射x射线荧光分析方法。空气冷却的x射线管产生x射线束，通过多层单色仪将其降低到一个狭窄的能量范围。细光束以很小的角度撞击抛光后的样品载体并被完全反射。

TXRF和传统XRF有什么区别?

就像传统的能量分散光谱仪x射线激发使样品中的元素以其特征能量发光，从而使元素识别成为可能。元素能量信号的大小有助于确定它们在样品中的浓度。然而，TXRF用全反射光束照射样品的能力减少了样品矩阵中的吸收和散射。由此产生的好处包括显著增强荧光产率，大大减少背景噪声，并因此对仅以微量出现的元素具有更高的灵敏度。TXRF与传统XRF相比的另一个优点是它能够测量非常少量的样品，在低微升或微克范围内。

TXRF分析在抛光样品载体上制备的液体、粉末和悬浮液，这些液体、粉末和悬浮液作为薄膜进行定量分析，或作为微碎片进行定性分析。对于液体，将带有内标的几微升均质样品移液到样品载体上，通过加热或真空干燥，并装入光谱仪。固体，如植物组织和土壤样品，首先干燥，研磨，悬浮在洗涤剂溶液中，稀释，均质，然后转移到载体上。粉末、沉积物或其他固体可以在温和的酸性溶液中消化或在移液到载体上之前转化为悬浮液。或者，干燥样品的微粒可以用润滑脂涂抹到载体上进行半定量分析。

痕量和小样本分析

相比传统的光谱仪， TXRF能够测量ppb范围内痕量元素的水平。在绝对质量方面，检测限在皮克级范围内，甚至优于任何商用ICP系统。

快速分析

与传统上用于痕量和小样本元素分析的原子光谱相比，TXRF样品制备快速，简单，并且不需要使用危险化学品的实验室排气罩。它可以同时测量包括卤化物在内的所有元素，并且具有更低的分析操作和维护成本。

需要多久进行一次校准?

TXRF系统是经过工厂校准并准备使用的。因此，未知样品的日常定量只需要添加一种内部标准元素，如镓。

TXRF是否需要真空泵或冷却液?

不!TXRF光谱仪不需要真空泵。由于与样品载体的距离很近，荧光收率很高，被空气吸收很低。这使得TXRF光谱仪非常紧凑和现场分析成为可能。此外，TXRF光谱仪不需要冷却液、气体或任何其他介质。它是一个即插即用的系统，不需要任何媒体或复杂的实验室基础设施。

• Iso是18507全反射x射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用。
• ISO 20289:水的全反射x射线荧光分析。