DIFFRAC。LEPTOS

x射线反射率(XRR)提供了样品垂直密度分布、层厚度和界面粗糙度的详细信息。高分辨率x射线衍射(HRXRD)测量样品的晶体结构。采用掠入射小角散射(GISAXS)技术对纳米颗粒及其孔隙度进行了评价。残余应力分析探讨了本体试样和多晶涂层的应变状态。

除了传统的单曲线扫描外，LEPTOS还可以分析高分辨率HRXRD和XRR互反空间图，GISAXS和XRD²应力框架，HRXRD, XRR和残余应力应用的区域测绘。不管数据是用0-D、1-D还是2-D探测器采集的。
GUI可以定制，以适应科学研究人员和工业运营商的要求。

• 多重XRR、HRXRD、GISAXS和RS测量联合评价
• 先进的x射线散射理论和数值方法的估计，模拟和拟合的数据在直接和倒易空间
• 自然集成处理由点，线和二维探测器测量的1和2维数据集
• 通用样品模型编辑器参数化任何类型的薄膜和散装样品
• 全面和可扩展的材料数据库，涵盖所有230个晶体空间群
• 区域绘图工具，用于显示和评估在大样本区域上进行的测量
• 先进的用于一维和二维数据残余应力分析的sin²ψ方法，以及评估多晶涂层应力梯度的多重(hkl)方法

LEPTOS R专为分析x射线反射率(XRR)数据和薄层结构的非镜面漫射散射(DS)而设计。该模块完全集成在LEPTOS套件中，该套件包含HRXRD, GISAXS和XRR数据的同时分析。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个包的所有通用功能。

LEPTOS R在包括VAMAS项目A10在内的几个国际基准中获得了很高的评价。LEPTOS R的结构符合最新制定的国际rfff标准对XRR数据格式的要求。

LEPTOS S是一种创新的，强大的和全面的模块，用于通过使用经典的sin2ψ和扩展的XRD2方法对0D, 1D或2D探测器测量的残余应力进行分析。该模块完全集成在LEPTOS套件中，并继承了整个包的所有通用功能。