XFlash 6 - 10
最佳分辨率SDD
XFlash 6-10检测器
这款最新一代x射线探测器的核心部件是一块根据漂移室原理工作的硅芯片。
由于特殊的芯片设计集成了电荷放大器的XFlash®可以处理非常高的计数率，同时显示出色的能量分辨率，这是任何其他硅基能量色散x射线探测器所无法比拟的。
总之，XFlash®6-10提供以下优点:
- 出色的能量分辨率(限量版，Mn Kα下121 eV, C Kα下38 eV, F Kα下47 eV)
- 其他可用的分辨率是123、126和129 eV在Mn Kα
- 极高的脉冲负载能力
- 优异的轻元素和低能耗性能(Be - Am元素范围)
- 没有精密的、产生振动的冷却系统
- 通电后立即可用
- 运行成本低
- 不需维护的操作
- 小尺寸，包括纤细线条的技术手指
- 低体重
建议的XFlash应用领域®6 - 10:
- 用于SEM，微探头，FIB-SEM的EDS系统(可选焊接波纹管)
- 轻元素和低能量范围分析