OPTIMUS TKD探测器头
布鲁克的高性能eFlashEBSD探测器系列现在可以配置OPTIMUS™TKD探测器头是专门为扫描电镜轴上透射菊池衍射分析(TKD)的最佳样品探测器几何设计的。探测器头不仅获得菊池图案与无与伦比的灵敏度，但甚至提供访问SAED(选定区域电子衍射)类似的图案。
具有至少2 nm空间分辨率的方向映射
与垂直标准设置相比，水平荧光屏位于样品下方的位置有两个主要优势:
- 强一个数量级的信号
- 最低可能的侏儒投影失真
明显更强的信号允许获得具有小孔径的方向图，从而提高空间分辨率。在各种材料上的结果表明，当使用高端FE雷竞技网页版-SEM时，有效的空间分辨率为2 nm或更好。在低到5千伏的加速度电压下工作也是可能的。这有助于减小平均自由程，从而提高菊池衍射信号的产率。这在分析薄的和“轻量级”样品时非常有用。扭曲造成的投影是EBSD中常见的问题，特别是在使用垂直荧光屏时影响TKD分析。
然而,擎天柱™TKD可以将荧光屏的中心与图案中心精确匹配，从而实现理想的几何条件，甚至比标准EBSD几何条件更好。由此产生的菊池模式具有最小的扭曲，显著改善波段检测和后续索引精度。
百眼巨人™FSE成像系统
擎天柱™TKD是配备的百眼巨人™成像系统，可以实现明亮的暗场成像，细节可达纳米级，几乎可以将您的SEM转换为“低kv TEM”。百眼巨人™可用于显示变形材料中的单个位错和位错壁网络。雷竞技网页版Dark Field类图像显示了边界平面位置和倾角的三维信息。
易用性
每个现有的eFlash探测器可以配备OPTIMUS™TKD探测器头。一个训练有素的用户可以在不到10-15分钟的时间内轻松完成交换。这允许在需要时在EBSD和TKD模式之间进行简单快速的切换。擎天柱™TKD具有布鲁克先进的碰撞保护系统:在不太可能发生碰撞的情况下，探测器立即以10毫米/秒的速度收回，大大降低了任何损坏的风险。的擎天柱™TKD探测器头无缝地与布鲁克的TKD专业工具包用于SEM，包括TKD样品夹，XFlash®同时进行TKD/EDS测量的EDS检测器系列和ESPRIT 2分析软件套件。
