QUANTAX EDS para TEM
Mapeamento de Elementos em Nanoescala
Mapeamento de Elemento Quantitativo
Destaques
Element Analysis in Transmission Electron Microscopy on the Nanometer Scale
Flexible and easy-to-use analysissoftware package ESPRITwith anopen user interface: you see what you do.
Off-line analysis optionwith individual or LAN access for student or laboratory networks.
Sophisticated most seasonedquantitative energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS)for complete data mining includes:
- Options for quantification steps:default suggestions for easy use, indvidual setup, detailed modification and saving/reloading of recipes
- 3 different quantification approaches arecovering all possible scenariosbased on theoretical and experimental Cliff-Lorimer factors as well as Zeta-factors and the interpolation of missing Zeta-factors
- TEM-specific high energy element lines above 40 keVavailable for quantification ensuring unambiguous results
- Choice of3 vital background models: a physical one for bulk and a physical one for thin lamellae as well as a mathematical model
- Absorption correctionincluded in the Cliff-Lorimer quantification already
Mapeamento de elementos EDS em TEM, STEM e SEM (T-SEM) na escala nanométrica
A configuração de medição versátil e clara e a geometria slimline garantem dados TEM EDS rápidos e confiáveis em uma base rotineira. As imagens hiperespectrais são adquiridas usando os chamados HyperMaps ou Imagens Espectrais. Os espectros por pixel e todos os metadados necessários para uma análise quantitativa correta são salvos para inspeção e processamento.
- O design de linhas finas e a otimização geométrica para cada tipo de pólo do microscópio garantem o máximo de coleta e ângulo de decolagem.
- Ajuda a evitar a inclinação da amostra, absorção, sombreamento e picos do sistema.
- Detectores sem janelas para aumentar ainda mais a eficiência de detecção, particularmente na região de baixa energia para linhas K de elementos leves e L-, M- e outras linhas de elementos Z mais altos.
- A retração automática por padrão e a personalização garantem uma longa vida útil do detector e experimentos versáteis.
- Monitoramento automático de experimentos in situ e in-operando, como aquecimento de materiais, onde as alterações químicas são registradas em tempo real.
- Conjunto de software abrangente ESPRIT para análise de dados on-line e off-line.
Benefícios
High-resolution Element Distribution Analysis of Electron Transparent Samples in TEM, STEM and SEM (T-SEM)
- Long standing expertise in EDS ensures the configuration ofthe best solution for your specific microscope (STEM, TEM or SEM)thanks to slim-line detector design and geometrical optimization for each microscope pole piece and EDS flange type
- Maximum collection and take-off angle allowfast and highly sensitive data acquisition
- Fast-movingstable detector stage
- A special drift correction routine for periodic features ensuressuccessful EDS on the nanoscale
- Time resolved data acquisition for in-situ experimentssuitable for saving a stream of changing data, f.e. at elevated temperatures
- Automation of data acquisition and analysis processes using the scripting and API options for generation ofspecific analysis jobsandbatch processing
- Clean data needing no or minimal post-acquisition correctionsdue to avoiding mechanical and electromagnetic interference completely and avoiding or keeping to a minimum specimen tilt, absorption, shadowing and system peaks
- Most seasoned quantification for EDS datafrom electron transparent specimens on the market provides thorough data mining with unambiguous results
- Highest quality assistance and trainingdue to long standing experience in TEM for using your system to its full power
Software para TEM EDS On e Off-line
O QUANTAX EDS para TEM inclui um pacote de software de análise flexível e transparente ESPRIT. Os métodos padrão e ajustáveis permitem a mineração de dados rápida e abrangente de mapeamentos de elementos, os chamados HyperMaps ou imagens de espectro e a geração de mapas quantitativos de elementos. Rotinas de quantificação baseadas em padrões e sem padrão para espectros, objetos, varreduras de linha e mapeamento de elementos estão incluídas, bem como análise de fase baseada em PCA e análise estatística automatizada de partículas.
- Software de análise off-line com chave de hardware pessoal e/ou opção de LAN para redes de alunos ou laboratórios.
- Interface de usuário transparente aberta: o que você vê é o que você obtém.
- Configuração clara, modificação e salvar/recarregar rotinas de quantificação para dados EDS.
- Dois métodos de quantificação para amostras transparentes de elétrons: Método Cliff-Lorimer e Zeta-Factor.
- 因子teoricos de Cliff-Lorimer podem ser计算ados para qualquer voltagem, incluindo baixas voltagens em SEM (TEM em SEM), usando uma grande base de dados atômica constantemente atualizada.
- Fácil calibração guiada por software de Cliff-Lorimer- e Zeta-Factors experimentais usando amostras padrão.
- Os fatores Zeta para todos os elementos podem ser calculados a partir de apenas alguns padrões de elementos usando os fatores Cliff-Lorimer existentes.
- Escolha de modelos de fundo: modelos físicos para amostras de elétrons transparentes e em massa, bem como cálculo matemático de fundo.
- Geração de relatórios com diferentes modelos.
Aplicações
Ultimative Results with the New XFlash®7 EDS Detectors for TEM
EDS Analyses of Coated Li-ion Battery Cathode Particle
The capacitance retention of NCM cathode material of batteries (SSB and LIB) can be improved by coating structures. To control the performance of these nanometer-thick coatings, their elemental distribution must be known. We present a SEM-based solution of EDS analysis achieving nanometer resolution on micrometer-sized cathode particles with irregular surfaces and compare it to TEM EDS.
