x射线光谱法鉴定单个杂原子

纳米材料中的单个杂原子通常在材料性能中起着关键作用。雷竞技网页版为了获得对材料性能的最大控制，研究人员必须能够在不同厚度和组成雷竞技网页版的样品中检测和识别不同的杂原子。在这里，我们展示了在扫描透射电子显微镜下，用能量色散x射线光谱在两相碳质纳米级混合物中识别单个Si, S, P和Ca杂原子。为了充分证明该技术的稳健性和相对于单原子物种形成的电子能量损失光谱的潜在优势，没有对样品厚度或杂原子物种类型进行先验约束。x射线光谱采集时间为8 ~ 57 s，归一化计数率为0.096 ~ 0.007计数s-1 pA-1。通过最小化电子束光栅的过采样面积，最大化原子上的有效停留时间，实现了最低次数/最高有效计数率。

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应用物理快报第108卷，第16期，163101 (2016);作者:R. M.斯特劳德，T. C.洛夫乔伊，M.福尔克，N. D.巴西姆，G. J.科尔宾，N.德尔比，P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde, O. L. Krivanek