地幔岩石学和钻石的来源

这里是一个SEM-XRF元素映射的地幔橄榄岩garnet-spinel diamond-bearing纽兰兹金伯利岩(南非、Kaapvaal克拉通)。各种元素的强度表明存在于某些矿物样本;例如Ca(绿色)-斜辉石;Cr(蓝色)-铬;艾尔(黄色)-石榴石,和K(橙色)交代。薄片分析使用在SEM MicroXRF。样品大约3厘米x 2厘米,分析了作为一个单一的框架。每个像素的全谱进一步允许离线处理如添加元素,光谱提取出来的地图,地图上的量化或汽车的阶段。

micro-XRF数据识别的优势高能x射线线以及样品中的微量元素。micro-XRF是一个小点分析(约35微米),尽管比电子束。交互的体积远远大于一个电子束,元素和样本矩阵相关的。因此,二维元素映射可能产生电子束之间的差异和x射线生成的地图。低光谱背景允许检测微量元素与电子束是不可能的。样品制备的要求是不同的;例如没有相应的充电效果和没有样品涂层。此外,由于信息的深度不需要高质量的波兰。此外,一个粗略的样本可以被分析,只要它有一个平面的表面。量化可以standardless或基于标准的。