新专利挖掘AFM-IR模式是一个令人兴奋的新功能,提供10纳米化学成像的空间分辨率以及单层测量灵敏度和nanoIR的能力扩展到更广泛的样本。利用AFM-IR保留nanoIR技术的易用性,所以轻松快速地达到最佳测量分辨率。
上可用nanoIR2/2-s和nanoIR1平台。
允许用户选择任何点(或一系列的点)在AFM图像获取局部过渡温度,即Tg和Tm图像的转变温度在样品表面通过模式转变温度显微镜(TTM)和收集样本表面的地图显示相对导热系数或相对温度的变化在表面(SThM)。可用在所有Anasys nanoIR系统作为一个除了选择第三方afm。