PeakForce KPFM
业界领先的空间分辨率和无伪影的潜在对比度
PeakForce KPFM™通过提供最高的空间分辨率和最精确的表面电位测量，提高了传统KPFM技术的测量性能。这些改进都是与新技术相结合实现的PeakForce攻®模式，扫描算法和布鲁克独特的内部探针开发。
独特的是，PeakForce KPFM提供最精确的探针到探针表面电位测量，实现不同材料类型的一致测量。它可以与峰值力敲击QNM®提供同步的，高度相关的纳米尺度的地形，电气和机械性能的映射在广泛的样品。PeakForce KPFM还克服了传统KPFM技术在scanassist中操作时存在的重大易用性问题®模式，使所有经验水平的用户都能获得专家质量的数据。
PeakForce KPFM提供:
- 最准确，可重复，灵敏的功函数测量
- 领先的空间分辨率结合无伪影的潜在对比度
- 相关定量纳米力学性能映射
在黑暗(下半部分)和相当于300太阳强度的照明(上半部分)下，ITO衬底上的MDMO-PCBM体异质结太阳能电池的PeakForce KPFM电位图。(样本由蒙斯大学的Philippe Leclere博士提供。)
