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TappingMode™的开发使研究人员能够对太脆弱而无法承受接触模式横向力的样品进行成像,并且使用比非接触模式高得多的扫描速度。
TappingMode AFM是一项布鲁克专利技术,通过用振荡探针尖端轻拍表面来绘制地形。悬臂梁的振荡幅度随样品表面形貌的变化而变化,通过监测这些变化并关闭z反馈回路以最小化这些变化来获得地形图像。
这种流行的AFM模式构成了许多高级模式的基础,例如电磁力显微镜(EFM)和磁力显微镜(MFM)。