维XR
Destaques
维XR
布鲁克的维XR扫描探针显微镜(SPM)系统结合了数十年的研究和技术创新。常规原子缺陷解决方案，以及一系列独特的技术，包括PeakForce tap®， DataCube模式，SECM和AFM-nDMA，它们提供了最大的性能和能力。Dimension XR系列spm将这些技术打包成解决纳米机械、纳米电和电化学应用的交钥匙解决方案。在空气、流体、电或化学反应环境中量化雷竞技网页版材料和活性纳米系统从未如此容易。
Caracteristicas
最高分辨率的所有模式，所有环境
从液体和刚度图中的点缺陷到空气和电导率图中的原子分辨率，Dimension XR系统在所有测量中提供最高分辨率。他们利用布鲁克的专利PeakForce攻实现硬物质和软物质性能基准的技术，包括聚合物中的晶体缺陷分辨率和分子缺陷。雷竞技怎么下载同样的技术在数百张图像中解决毛化玻璃上最小的粗糙度方面发挥着同样重要的作用。该系统将PeakForce敲击与极高的稳定性、独特的探头技术以及Bruker在尖端扫描创新方面的数十年经验相结合。结果是始终如一的最高分辨率成像，完全独立于样本量、重量或介质，适用于任何应用。
革命AFM-nDMA
AFM首次能够在纳米尺度上对聚合物进行完整和定量的粘弹性分析，在线性体系中以流变相关频率探测材料。雷竞技网页版专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率跟踪能够在0.1 Hz至20 kHz范围内进行小应变测量，用于直接与批量DMA相关的存储模量、损耗模量和损耗切线的纳米级测量。
私有数据立方模式
这些模式利用FASTForce体积用用户定义的停留时间在每个像素上执行力距离谱。利用高数据捕获率，在停留时间内执行大量的电测量，从而在每个像素处获得电光谱和机械光谱。DataCube模式在一次实验中提供完整的特性描述，这在商业AFM中是闻所未闻的。
独家PeakForce SECM
该模式的空间分辨率小于100纳米，重新定义了液体中电气和化学过程的纳米级可视化。PeakForce SECM与传统方法相比，它的分辨率有了数量级的显著提高。这使得对储能系统、腐蚀科学和生物传感器的全新研究成为可能，为单个纳米颗粒、纳米相和纳米孔的新型测量打开了大门。只有PeakForce SECM能够同时捕获具有纳米级横向分辨率的地形图、电化学图、电学图和机械图。
由NanoScope 6 AFM控制器提供动力
NanoScope 6控制器具有更高的速度，更低的噪声和更大的AFM模式灵活性，允许用户充分利用我们高性能维度和多模式AFM系统的全部潜力。这一最新一代控制器提供了前所未有的精度，精度和多功能性的纳米级表面测量在每个应用程序。
NanoScope 6独特地使布鲁克AFMs:
- 与竞争系统相比，可以在更多的成像模式下操作，包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
- 在每一个应用中收集精确、定量的纳米电和纳米力学性能测量数据;而且
- 优化和自定义扫描参数，以满足最苛刻的研究和行业测量要求。
Aplicacoes
使用AFM模式扩展应用程序
凭借无与伦比的成像模式套件，布鲁克有一个AFM技术的每一个调查。
基于核心成像模式-接触模式和敲击模式- bruker提供AFM模式，允许用户探测样品的电、磁或材料特性。雷竞技网页版Bruker的创新PeakForce敲击技术代表了一种新的核心成像模式，该模式已被纳入多种模式，可并行提供地形、电气和机械性能数据。
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