Soluções de半导体

A Bruker半导体分离，fabrica，商业化e apoia soluções de metrologia para filmes finos, cuja base assenta na tecnologia de raios X inovadora, rápida, sem contact to e não destrutiva。Com aquisição da Jordan Valley Semiconductors por parte da Bruker, um nome que é sinónimo de serviço e support ao client inigualáveis a nível mundial, 75% dos 25 maiores fabricantes mundiais de Semiconductors confiam nas ferramentas de metrologia da Bruker para aplicações前端e后端，包括indo o desenvolvimento DOS seus filmes finos da próxima geração。O折衷达布鲁克para com a inovação e liderança tecnológica冲动O lançamento contínuo de novos avanços na metrologia e tem ganho inúmeros prémios e reconhecimento da indústria。

Nas aplicações que vão desde a caracterização de film materiais de finos C-S à análise de substrate de wafer e deteção de defeitos, os sistemas da Bruker oferecem análise de simulação e adequação。Os tipos de medição HRXRD, XRR, WA-XRD e XRDI são total sumente sumente, proporcionando aos investigadores, engenheiros de produção e desenvolvedores de procesescapacidades inigualáveis。Quer seja uma学术界，半导体制造技术中心instalação de investigação de materiais industriais, a Bruker tem uma solução计量学必要条件规定。