三维光学表面光度仪

contourx - 100

流线型的和负担得起的台式粗糙度计量

Destaques

contourx - 100

contourx - 100光学表面光度仪设定了新的基准,准确和可重复的非接触式表面计量以最佳的价格点。小足迹系统提供了毋庸置疑的2 d / 3 d高分辨率测量功能的简化方案,包含了几十年的专有力量白光干涉法(WLI)创新。下一代增强包括一个新的5像素的摄像头和更新阶段大缝合功能,和一个新的测量模式,USI,为更大的方便和灵活性为精密加工表面,厚的电影,和摩擦学应用程序。你不会找到一个台式系统价值比contourx - 100。

业内
Z的决议
提供恒定的、精密测量、独立的放大。
无与伦比的
计量值
流线型的设计没有妥协的测量能力。
用户友好的
软件界面
提供直观的访问一个广泛的预定程序的库,过滤器和分析。

Caracteristicas

特性

无与伦比的计量

" WLI提供常数和终极目标的垂直分辨率。

contourx - 100分析器是超过四十年的专有的顶峰光学创新和行业领导非接触式表面计量特性和成像。该系统利用3 d " WLI和2 d成像技术为多个分析在一个单一的收购。contourx - 100是健壮的在所有表面情况下反射率从0.05%到100%。

无与伦比的价值分析

contourx - 100手工阶段。

成千上万的定制的分析和力量的简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,contourx - 100台式是优化生产力在实验室和工厂。硬件和软件结合streamlined提供高通量光学性能,完全outclassing可比计量技术。

Aplicacoes

应用程序

表面积计量与特定于应用程序的解决方案

精密工程

保持高精密度的表面纹理和几何尺寸零件严格规范范围内。我们gage-capable测量系统提供有效的反馈和报告监控,跟踪和评估过程和评估GD&T的一致性。

微机电系统和传感器

进行高通量、高重复的腐蚀深度、膜厚度、阶梯高度,和表面粗糙度测量,以及先进的MEMS的关键尺寸测量和光学微机电系统。光学分析可以描述设备整个生产过程从晶圆到最终测试,甚至通过透明的包装。

骨科、眼科

获得精确的、可重复的测量植入材料和组件通过完整的产品生命周期。雷竞技网页版" WLI光学profiler支持研发、QA和QC分析,应用程序从透镜的表面参数的表征和注塑模具表面光洁度验证和磨损的医疗设备。

摩擦学

测量、分析和控制的影响摩擦,磨损、润滑和腐蚀材料/组件的性能和寿命。确定定量穿参数和执行快速的通过/失败检查广泛的光泽,光滑或粗糙的表面。

半导体

提高产量和降低成本两个前置和后端与自动化生产流程,非接触式、圆片规模计量系统。执行post-CMP模平面度检查;凹凸高度、共面和缺陷识别和分析;和测量组件结构的临界尺寸。

光学

更好地了解缺陷的根本原因,优化抛光和完成过程精确和可重复的sub-nm粗糙度测量。我们的非接触式测量系统启用符合日益严格的规范和ISO标准为样本,从小型非球面和自由的光学、光学组件和复杂的几何图形,衍射光栅和微透镜。

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