实战NamScratch模块
高分辨率测量并发常态和横向力感应
语法测量直接从现场技术中受益,这些技术揭示滑动界面发生的变形过程除直接观察磨损进化外,还可用现场三叶学研究摩擦、三生化学反应、跨向粘合、损抗和纳米粒子滚动NamScratch选择对BrukerHysitron PI95TEM识别码并Hysitron PI89SEM识别码工具使高分辨率测量同时正常和横向威力感测
NamScratch测试通过以受控方式应用正常负载实现,同时测量探针和采样之间的横向力通过选择适当的正常加载剖面图和横向移位模式,可以进行多种不同类型的测试。从强移位数据中,可测量临界负载、胶片粘合和分解力等有用信息改取抓取测试也可以在较长时间学习穿戴机制雷竞技网页版这些数据提供大量资料说明同时正常和横向压力下的材料行为,并辅之以直接观察电子显微镜成像
平面和正常抓取测试中记录正常数据图(顶部)以及同步SEM视频框架(底部)显示变形和故障的不同阶段:(A)双裂分切到抓取路径脱光事件和可见反射C)分解区域分解并(D) 二次回波/淡化事件一探到第一个回波区域远端
