表面涂料和细化

陶瓷和无机涂料

涂层和层分析

使用micro-XRF涂层厚度分析

金属涂层是必不可少的许多工业领域提供增强的表面性质多种多样的产品。金属涂层可以提供耐用,耐蚀层保护基材,并有助于减少磨损的金属产品。金属涂层可以提高导电性、抗扭矩,可焊性。涂料的组成和厚度的质量控制是至关重要的,确保正确的涂层性能和耐久性。

当严格质量控制的金属涂层是必需的,x射线荧光光谱仪分析是最佳的整体解决方案。的力量M1米斯特拉尔micro-XRF仪器可以提供同步涂层厚度和涂层成分测量。除了涂料分析M1米斯特拉尔也可以测量金属合金的化学成分,电镀槽液体、塑料和许多其他材料。雷竞技网页版

自动层和涂层使用光谱仪分析

无机涂料的精确应用重要性高当生产机械,电子或光学组件。层使用光谱仪分析是一个非常好的工具,确保涂料和层形成。

光谱仪可用于描述层通过确定其厚度同时识别和量化的元素出现在一层。这使得XRF-based分析一个强大的工具优化涂料层,允许其属性精细目标应用程序。组件涂层在生产过程中还必须质量检查,以确保正确的涂料厚度和宪法的目标使用。

这些过程的自动化带来好处的有效性和效率。的XMS从力量纳米分析,是专为自动光谱仪分析生产和质量控制。XMS可用于自动分析和检查组件层和涂料的生产,带来许多行业效率储蓄和提高质量。

使用micro-XRF映射层厚度的变化

在玻璃衬底的示例中,两个电极,电解是光诱导的测试装置。它是由一枚双金属单层与浓度梯度阿龙

作为x射线可以通过问题,光谱仪一般允许层厚度的确定。使用micro-XRF在这种情况下M4龙卷风层分析(厚度和组成)和空间分辨率呈现可行的千分尺规模。层分析是基于原子强烈基本参数的量化和提高可以使用标准样品。因此“共同”层系统,如ENEPIG涂料、ZnNi涂料、或焊料层,标准是现成的可以测量与精度高而且小说层系统在研发环境中可以进行测试。

测量使用micro-XRF层在真空中

分析薄层或涂层是一种常见的任务micro-XRF谱分析。的非破坏性的操作方法和x射线穿透到样本的能力和获取信息材料表面下使这种方法有吸引力为目的的分析单个或多个层。

这里讨论的特殊挑战分析样品是两层(铝)和基质(硅)光元素,这就需要测量在真空下,否则空气样本之间的光路和探测器吸收低能量辐射的样本。此外,这个应用程序使用Auto-Point比较手动和自动分析。结果表明,层厚度可以精确地确定micro-XRF(M4龙卷风),这是与直接测量结果证实了一层断裂边缘扫描电子显微镜。

压力

残余应力分析

多晶钨涂层硅的调查

大多数加工步骤引入残余应力可以影响生产组件的性能。压应力可以改造成一个金属镀层,用于抵抗裂纹扩展,而可以利用拉伸应力增强半导体的导电率。紧张的材料表现出原雷竞技网页版子间距的变化,可以检测到x射线衍射(XRD)和相关的压力通过弹性常数。

类金刚石碳(DLC)

通过拉曼类金刚石碳CVD涂层均匀性评价

简单地说,拉曼光谱是其中一个最强大的工具吗碳同素异形体分析。自然,这是go-to-tool化学蒸汽沉积类金刚石碳。

它允许区分的大量碳类型和结构提供了必不可少的信息,如重要的sp2/ sp3比率。此外,拉曼显微镜能够获得的拉曼光谱亚微米范围。

  • 涂层均匀性评价
  • 洞察涂层工艺
  • 全面的碳同素异形体的研究

类金刚石碳层厚度测定红外光谱

了解红外显微镜是用来评估钻上的CVD金刚石涂层。

红外光谱可用于层厚度-确定这样的电影。对于较小的结构微米数量级,红外光谱显微镜提供优秀的结果,使可靠的层厚度决定。

这样做,通过使用反射测量光transparend钻石。这将导致所谓interference-induced边缘。这些都是引起的光被反射的表面涂料层和涂层下面的衬底。

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