极化厚度和组成
极化厚度和组成
力量的x射线系统提供解决方案的在线过程监控和研发材料表征。雷竞技网页版是否复杂,多单元结构新兴的记忆或更传统的极化strucutures,我们的系统提供了重要的信息需要准确地确定和监控结晶阶段。
串联组成监测
监测的理想相变内存和其他新兴栈的记忆复杂、多元化的结构,力量的Sirius-RF工具结合x射线反射率的力量(XRR)厚度测量的个体在堆栈层多源µXRF测定成分和厚度的垫和细胞区域。
例如,系统是用来测量记忆元素的组成和厚度(GeSbTe -销售税)和双向阈值开关(OTS GeAsSe),两者都是重要的参数。
的Sirius-RFµXRF允许内联组成监测计量垫或设备领域。快速收敛束XRR允许厚度在1 - 2秒每点测量。
原位研究销售税薄膜的相变
了解薄膜材料的相变行为是至关重要的发展的极化设备。雷竞技网页版
Non-ambient x射线衍射允许精确测定水晶阶段和晶格参数作为温度的函数。
此外,x射线反射计是最准确的非破坏性方法厚度测定无定形销售税的电影。
