力量纳米分析提出:

空间解决薄层厚度分析金属与micro-XRF涂料

点播会话- 60分钟

分析与micro-XRF金属镀层

彻底了解涂层厚度和沉积构成电影制造商来说是至关重要的应用各种涂料的生产过程。力量的空间分布分析解决能力M4龙卷风Micro-XRF光谱仪和XMethod涂料分析软件使分析涂层的组成和层厚度的测量以及分布的地图覆盖区域。

这个研讨会将讨论XMethod层模型的建立和应用这种分析方法使用M4龙卷风。重点将金属涂层在不同基质和非盟等不同的应用程序/ Pd /镍铜在印刷电路板(PCB)和金属涂层在玻璃上。比较的结果对校准标准将以展示精度和重现性。

研讨会将圆了一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。

谁应该参加?

  • 质量控制专家保证薄金属涂层的厚度和组成电子行业
  • 涂层质量控制技术人员负责质量保证和多氯联苯在涂层失效分析服务
  • 研究人员在研发
元素分布Sn, Br,非盟,Bi,铜、镍、和Si PCB(内存模块)
空间分布的成分(左)(右)和分析厚度的Al-Cu-alloy玻璃衬底

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