地质分析扫描电镜的解决方案——第一部分
点播会话- 64分钟
EDS扫描电镜分析
加入我们的网络研讨会两部分涵盖的各个方面为地质应用扫描电子显微镜技术。第一部分介绍了SEM和EDS分析,第二部分介绍了EBSD, CL和样品制备。
第一部分——地质成像扫描电子显微镜(SEM)和成分分析
扫描电镜结合x射线显微分析(EDS)提供了一个非常强大的工具来理解材料的形态和微观结构。雷竞技网页版我们将解释如何优化SEM和执行先进的地质应用微量分析。Tobias Salge博士,我们邀请的客人,将审查微量分析在地质中的应用。
这45分钟研讨会将由一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。
第二部分——探索微观结构和化学矿物使用EBSD和CL
电子背散射衍射(EBSD)和阴极发光(CL)是必不可少的工具完成矿物样品的表征,通过了解变形、相变、缺陷、晶体生长、分带、胶结和微量元素化学。作为表面敏感的技术,我们也会看看样品制备方法。
这45分钟研讨会将在9月10日th并将圆了一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。第二部分将很快的登记。
谁应该参加?
- 研究人员在地质科学和采矿
- 显微镜专家想要探索新的分析技术如EBSD和CL
- 任何人考虑电子显微镜表征技术陶瓷、氧化物材料、矿物和相似雷竞技网页版
演讲者
劳丽Palasse博士
全球应用程序管理器,力量纳米分析
马克斯Patzschke
应用科学家EDS,力量纳米分析
垫埃里克森
部门经理、日立高新技术
Sten Sturefelt
销售和应用工程师,日立高新技术
图恩博士Coenen
产品经理,Delmic
托拜厄斯博士Salge
电子探针Microanalyst,伦敦自然历史博物馆
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