x射线荧光(光谱仪)测量被广泛认为是一个关键步骤诊断过程中保护,修复,认证,或者当解决历史问题在一个艺术对象。
硬件功能和性能的仪器数据采集的第一步。软件包为仪器设计让用户从获得的数据中提取附加信息。我们想把这个数据处理方法的中心舞台。
最近发布的ESPRIT揭示软件是一个易于使用的工具,它提供了一个广泛的功能元素组成的调查——不仅提高定性信息,还提供健壮的定量数据的计算。
在这个网络研讨会,我们继续从我们最近引入的ESPRIT揭示的核心特性,将焦点移动到最进化和复杂的功能,支持先进的元素识别和量化。
亨宁·施罗德博士
产品经理micro-XRF,力量纳米分析
罗尔德·Tagle博士
高级应用科学家Micro-XRF力量纳米分析
米歇尔Gironda
细分市场经理艺术与保护,力量纳米分析
*注册表单是Google Chrome浏览器的优化。这两个会议的内容是相同的。