标准支持微XRF量化优异
即时会议-56分钟
从基本参数量化性能看,我们今天在哪里?
标准或认证参考样本是绝大多数量化分析技术的主要支持参考样本用于验证分析方法并判定未知样本组成基本参数量化算法开发使其成为有效替代法
FP量化算法所依赖的事实微xRF从X光生成到数据采集几乎完全过程,当然包括X光与样本的交互作用,可用物理模型和制表基本参数描述当前模型允许采样量化无参考样本并高精度(5%相对误差)。
剩余不确定性主要可归结于对基本参数本身的了解和对工具属性描述(即描述工具属性)。多数几何学)有意思的是,两个问题都可以通过FP量化与定义清晰参考样本合并解决最佳二维组合FP量化弹性和标准量化可靠性显示通向高精度量化分析未来之路
无标准量化质量今天比标准量化质量高得多,方法要灵活得多。具体地说,可以分析样本而无需初始标定,质量与传统标准量化相匹配。
网络研讨会中,我们将探索基本参数量化方法如何用于实现微xRF高精度映射测量将探索如何使用最先进FP量化法进行不标准微XRF分析,与标准基测量相匹配
更多了解最先进FP量化
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无标准量化值图解主元和次要值认证
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讲演者
博士Roald标签
高级应用科学家微XRF,Bruker Nano分析
福尔克Reinhardt
高级应用科学家微XRF,Bruker Nano分析
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