x射线反射率(XRR)提供了垂直样品密度剖面、层厚和界面粗糙度的详细信息。高分辨率x射线衍射(HRXRD)测量样品的晶体结构。掠入射小角散射(GISAXS)用于评价纳米颗粒和孔隙率。残余应力分析研究了大块样品和多晶涂层的应变状态。
与传统的单曲线扫描一样,LEPTOS能够分析高分辨率HRXRD和XRR倒数空间图,GISAXS和XRD²应力帧,HRXRD, XRR和残余应力应用的面积映射。数据是用0-D、1-D还是2-D探测器收集的并不重要。
GUI可以定制,以适应科学研究人员和工业操作人员的需求。
LEPTOS R是为分析薄层结构的x射线反射率(XRR)数据和非镜面漫射散射(DS)而设计的。该模块完全集成在LEPTOS套件中,可以同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分,R模块继承了整个包的所有通用功能。
LEPTOS R在多个国际基准中获得了很高的评价,包括VAMAS项目A10。LEPTOS R的结构符合最新制定的国际rfCIF XRR数据格式标准。
LEPTOS H代表高分辨率x射线衍射和掠入射x射线衍射数据分析。
该模块完全集成在LEPTOS套件中,可以同时分析HRXRD、GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分,H模块继承了整个包的所有通用功能。
LEPTOS S是一个创新的,强大的和全面的模块,用于分析0D, 1D或2D探测器测量的残余应力,使用经典的sin2ψ和扩展的XRD2方法。该模块完全集成在LEPTOS套件中,并继承了整个包的所有通用功能。
LEPTOS G对掠入射小角散射数据进行评估,这些数据来自含有嵌入在表面下区域或位于样品表面的纳米颗粒的样品。例如,这些可以是埋藏或表面半导体量子点和岛、多孔材料、浓缩粉末、嵌入聚合物纳米颗粒等。雷竞技网页版模块G的许可证还包括用于x射线反射率的R模块。
版本 | 当前软件版本为V7.10.12 |
分析方法 |
动态帕拉特的形式主义 界面粗糙度模型的多样性 计算x射线散射参数的算子方法 本征波的专利方法(MEW) 快速2x2和精确4x4递归矩阵形式 经典和扩展的sin2ψ,以及XRD2方法 多重{hkl}残余应力的评价 薄多晶涂层中的应力/应变梯度 |
操作系统 |
Windows 8、Windows 10(32位或64位) |