NANOSTAR

NANOSTAR的无与伦比的模块化是理想的工具特性的纳米结构和纳米表面小角x射线散射(粉煤灰)、掠入射小角x射线散射(GI-SAXS)、广角x射线散射(蜡),和Nanography。mirror-conditioned针孔准直系统产生一个平行的,理想的圆形,梁高强度和低寄生散射。超大(XL)样品室容纳各种专用和第三方样品阶段的测量在所有条件下许多样本类型。最后收集到的散射信号与一个大的背景低,高度敏感的2 d检测器为各向同性和各向异性样品。

这种独特的x射线源提供了一个非常稳定和强烈的spot-focus x射线不需要用水冷却。由于其稳健设计,源有三年保修。IµS包括集成蒙特尔,先进的2 d光束整形光学,最高强度的样本。这种并行的多层镜设计捕捉大立体角的x射线源和有效地重定向在高度并行和单色光束。

与Mikrogap vantec - 500二维探测器^TM技术满足所有的理想专用粉煤灰水系统的要求。第一,不需要气体、水、或日常维护和强烈的辐射不关心或运动损伤导致探测器是健壮的,非常容易使用。大有效面积(14厘米直径),使巨大的角覆盖全面的视野。令人难以置信的低背景和高最大计数率为神奇的动态范围和灵敏度弱散射样品。良好的空间分辨率解决密集散射特性。没有其他检测器可以为这些应用程序提供这些理想的结合特性。

小角x射线散射(粉煤灰)是一种现象引起的粒子嵌入在一个矩阵不同的电子密度。如果颗粒大小范围从1到200 nm,散射角是0°5°的范围内,根据所使用的x射线波长。颗粒越小,更广泛的散射角。

任何安排的粒子在任何媒介显示了电子密度不同,结果在一个特定的模式在执行一个一枝实验。随着粒子的大小,一枝也可以确定他们的形状,间距和大小分布的二维模式。过粒子可以溶解的大分子,降雨在金属、矿物粒子在生物组织中,表面活性剂胶束。

粉煤灰相比,广角x光散射(蜡)检查结构在埃层面上,它通常是晶体结构的平面间的距离。布拉格蜡通常是用于分析x射线衍射(XRD)模式可以帮助确定晶体结构,结晶度、微晶大小和相组成(ID)阶段。蜡可以同时收集数据(同时)作为一枝数据与第二检测器位置更接近的样品。

利用电机驱动的XY Nanography调查阶段NANOSTAR集成到样品室。这允许选择样本区域自动通过x射线扫描。散射强度分布(或其他参数)可以显示不同颜色的等高线图。

Nanography允许快速和选择性检测的相关测量分不均匀样品,并允许甚至小样本定位精确。每个点的完整Nanography图像本身代表了一枝/蜡强度采集的二维积分。