eFlash高清

凭借近200万像素(1600 x 1200像素)的原生CCD分辨率和最先进的相机光学器件，新的eFlash HD检测器提供高清晰度菊地图案，显示最精细的细节。eFlash HD是残余应变分析(HR-EBSD)的完美选择。包含eFlash HD高质量模式的数据集是也非常适合交叉相关分析与第三方软件，如croscourt4。

典型的应用

• 残余应变分析
• 超精确相位识别
• 晶体结构中的伪对称性分析

与其前身(eFlash HR)相比，新的eFlash HD探测器具有改进的冷却系统，可将CCD的暗电流降低四倍。因此，现在生成的菊池图案质量更好，包括更高的信噪比。

新的eFlash HD检测器使用高效率和高质量的荧光粉屏幕来获取高细节的菊池图案。高像素分辨率CCD芯片和小粒度荧光粉材料的结合保证了20 μm图案的最终像素尺寸，使得图案的可见位移非常小。

eFlash HD采用高精度导向系统，屏幕定位精度可达10 μm以上。因此，新的eFlash HD是使用基于屏幕移动的方法运行模式中心校准的最佳解决方案。

eFlash HD可与ARGUS™预散射/背散射电子成像系统配套使用。这进一步增加了检测器的多功能性，并为有意义和有效的微观结构表征提供了有价值的附加信息。

新的eFlash HD还可以改装独特的OPTIMUS™TKD检测器头，以最佳的样品检测器几何形状分析电子透明样品。