eFlash XS

大幅增加实验室的数量能够获得一个EDS和EBSD系统集成力量纳米分析开发了eFlash XS,独特的EBSD检测器的负担得起的SEM市场的一部分。eFlash XS EBSD探测器是故意设计成安装在低足迹sem,像桌面sem和标准sem与小室。

我们的EBSD专业知识一直在挖掘开发最可靠和最实惠EBSD检测器,同时提供出色的性能。设计的最大可靠性、易用性和模式质量,eFlash XS由装箱能力CMOS摄像头,一个创新的光学系统最大的光传输和高性能的用户可自行置换的荧光屏。其USB3.0电脑连接(电力数据)使eFlash XS真正或者乐器。不使用时,in-SEM部分EBSD探测器幻灯片为外部存储,以消除任何风险的SEM阶段与探测器发生碰撞。

新eFlash XS EBSD检测器与第六代XFlash集成^®EDS探测器在精灵2软件来创建QUANTAX ED-XS,一个强大的组合分析技术的入门级SEM市场。

主要好处(硬件和软件)

易用性

• 不需要校准——WD变异影响模式中心自动纠正
• 装箱/模式分辨率变化不是必需的,所有的装箱方式是可用的
• 自动相机获得
• 自动水晶阶段设置,不需要用户干预
• 没有意外的风险EBSD探测器插入阶段
• 用户可自行置换的荧光屏
• 独立,同时收购EDS HyperMap和EBSD地图包括在内
• 自动数据保存
• 过去自动关闭地图的尽头收购都是可选的

新用户可以通过训练和实践EDS和EBSD用更少的时间限制

样品制备质量检查前一个昂贵的FE-SEM EBSD会话

运行程序EBSD在负担得起的sem分析,以减少FE-SEM积压

重要的规格

• 本地图像分辨率:720 x 540像素
  
• 支持面元模式:2 x2, 3 x3, 4 x4, 5 x5 6 x6
• 速度:525帧/秒(fps)在所有装箱模式
• User-removable探测器头——滑进出机制
• 用户可自行置换的荧光屏
• EBSD数据和电力传输通过USB3.0电缆(不需要额外的电缆或箱)
• 外尺寸:长度~ 84毫米,直径~ 48毫米