XFlash 6-60
Nano-Analysis大面积SDD
的XFlash 6-60探测器
大有效面积60毫米2芯片款超薄的线性检测器的手指一起提供一个大立体角。的XFlash®6-60因此注定的用于应用程序与x射线收益率相对较低,在nano-analysis一样普遍。探测器也提供了一个很好的能量分辨率与126 eV Mn KαF C和决议,它也可以轻松使用的低能量范围内,这也是这个领域的需求。
总之,XFlash®6-60提供了以下优点:
- 很好的能量分辨率(126 Mn KαeV, 51电动车在F C Kα和60 eV Kα可用)
- 其他可用分辨率为129 Mn KαeV
- 极高的脉冲负载能力
- 和低能量性能优良的光元素(元素范围是- Am)
- 没有精心设计,vibration-generating冷却系统
- 上电后立即
- 低运营成本
- 不需维护的操作
- 小尺寸,包括款超薄的线性技术的手指
- 低体重
建议申请XFlash领域®6-60是:
- SEM, EDS系统探针,FIB-SEM(焊接波纹管可以作为一个选项)
- 结合EDS和高分辨率EBSD分析eFlash FS
- Nano-analysis