为可靠的EDS量化,样品的准确知识和探测器几何势在必行。然而,对于材料粗糙的地形,雷竞技网页版很难知道当地的样本几何的频谱。提高量化的一个方法是获得几个光谱样本轮换。这将对量化模糊样本地形的影响,使结果更接近化学计量浓度。
图1展示了SE图像的三元合金粗糙样本地形和认证集中值(元素= 33.4%,B和C = 25.3% = 41.3%质量百分比)。评估材料组成,五个point-spectra获得样品表面(图1)。样品旋转了180˚,五point-spectra收购另外,几乎在同一位置(图1 b)。平均光谱对材料的成分:元素= 33.5%,B和C = = 40.8%和25.7%非常接近认证的浓度。一种方便的方法来测量粗糙表面是使用力量的独特XFlash®FlatQUAD探测器。