陨石标本的高分辨率x射线元素测绘

陨石样本很稀有，因此很珍贵，最好是用非破坏性的方法来分析。当原始表面的微观研究是研究的重点时，基于sem的EDS分析的常见样品制备步骤，如切割、研磨、抛光和碳涂层，严格排除在外。

传统的EDS探测器在这种情况下面临着局限性，特别是在需要高空间分辨率的情况下。由于矿物学陨石标本是不导电和地形的，电荷和阴影效应是主要的挑战。

为了克服这些限制，可以使用XFlash^®FlatQUAD．这种独特的环形EDS检测器直接放置在样品上方，类似于BSE检测器。它的特点是对低x射线产量具有极高的灵敏度，最大限度地减少任何阴影效应，因此是绘制粗糙的，非涂层样品(如陨石)的完美工具。

我们调查了1882年2月2日在匈牙利坠落的Mocs陨石，由维也纳自然历史博物馆(NHM)提供。应用XFlash^®FlatQUAD揭示宇宙物质的演化，因为它能够在深腔内对元素组成进行高分辨率映射。(Salge等人，EMAS 2018 -地球科学中的微束分析，布里斯托尔，英国，第16页)