M1米斯特拉尔
小型台式微型xrf光谱仪
散装材料及涂料
有成本效益的行动
Основныемоменты
100µm
最小光斑尺寸
甚至可以解析电路板上的精细结构细节
2 nm-60µm
用于分析多个多单元层的厚度范围
根据ASTM B568和ISO 3497进行具有挑战性的层厚度和成分分析;包括具有重复元素的图层;可编程多点分析
8 ppm
聚合物中Cu、Zn或Zn中Pb的检出限
焊料、塑料、金属合金中微量元素的RoHS筛选、分析;材料厚度自动校正，PCB元件测量点精确定位
一种紧凑的多用途台式微型xrf光谱仪
关键因素
- 灵活的仪器
- 操作方便
- 用户友好的触摸屏界面
- 访问原始数据
M1 MISTRAL是一款紧凑的台式能量色散微型xrf分析仪，可用于多种用途。M1 MISTRAL易于操作，专为在工业环境中快速和经济高效的操作而设计，可提供有关贵金属合金等材料的元素组成和层厚的准确信息以及多层结构。雷竞技网页版
根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497对散装和涂料进行分析。利用Rh靶激发法对化学沉积的磷酸镍(NiP)镀层进行了高精度的分析。
所有首饰合金、铂族金属或银的确切成分都可以在几分之一分钟内确定。结果可以以重量%或克拉为单位输出。
分析可以无标准执行，也可以基于标准执行，以达到更高的准确性。各种各样的校准可用于每种应用。
从定位样品到在报告中打印结果-整个工作流程集成在软件中。同时，通过对原始数据的开放访问，保证了完全的透明度。
Преимущества
M1西北风的好处
各种各样的元素都可以进行无损测量。不需要样品制备。即使是复杂的分析任务也可以通过可编程的XYZ阶段自动完成，只需单击鼠标即可开始。超快速检测系统提供快速结果。
M1 MISTRAL配备了大面积硅漂移检测器(SDD)，具有卓越的计数率性能和能量分辨率，可将检测限制降低到ppm级别。高性能探测器，数字脉冲处理和优化的几何条件导致高效率的x射线检测，因此快速准确的分析结果。
M1 MISTRAL易于使用和免维护的设计以及强大的分析软件套件允许即使只接受过简短培训的人员也可以操作。不需要消耗品或气体。坚固的结构确保最高的稳定性和免维护操作。
Применения
Спецификации
技术细节
激 |
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Max。样品尺寸和重量 |
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探测器 |
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马克西。舞台行程范围 |
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元素种类繁多 |
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仪表尺寸(宽×深×高) |
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| x射线光斑尺寸 |
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Программноеобеспечение
XSpect Pro分析软件套件
- 仪器控制、数据采集和管理
- 用户可选择的触摸屏界面
- 舞台控制和编程
- 金属多层材料的层厚和成分分析
- 定量成分分析，无标准和基于标准的实证模型
- 具有自动峰识别的频谱查看器
- 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
- 报告生成器
- 结果存档
