原子力显微镜

维图标

世界上性能最高的大样本AFM

Основныемоменты

维图标

布鲁克的维度图标®为科学和工业领域的纳米级研究人员带来最高水平的性能、功能和AFM可访问性。它建立在世界上使用最多的大样本AFM平台上,是数十年技术创新、客户反馈和行业领先的应用灵活性的结晶。该系统从上到下的设计提供了革命性的低漂移和低噪声,使用户能够在几分钟而不是几小时内获得无伪影的图像。

最高的性能
提示扫描仪
提供无与伦比的大样本分辨率,具有开环噪声级,降低噪声下限,漂移速率< 200pm。
容易
生产力
提供令人惊讶的简单设置、直观的工作流程以及每次获得发布质量数据的快速时间。
多才多艺的
开放获取平台
适应最广泛的各种实验,模式,技术,和半自动测量。

Особенности

特性

最高的性能和分辨率

尺寸图标的卓越分辨率,结合Bruker专有的电子扫描算法,为用户提供了测量速度和质量的显著提高。Icon是Bruker行业领先的尖端扫描AFM技术的巅峰,结合了温度补偿位置传感器,可以在z轴和XY轴上呈现亚埃范围内的噪声水平。这在大样本、90微米扫描范围系统中具有非凡的性能,超过了高分辨率AFMs的开环噪声水平。XYZ闭环磁头的新设计还提供了更高的扫描速度,而不损失图像质量,从而实现更大的数据收集吞吐量。Bruker-exclusivePeakForce攻®使维度图标常规创建最高分辨率的图像。

在0.6Hz接触模式下云母原子分辨晶格成像。

非凡的生产力

Dimension Icon的图形用户界面。

Dimension系列AFM比任何其他大样本AFM平台都能提供更多的已发布数据,在研究和行业中都获得了标志性的声誉。Icon将平台提升到一个新的卓越水平,提供更高的性能和更快的结果。该软件直观的工作流程使执行即使是最先进的AFM技术比以往任何时候都更容易。图标用户可以立即获得高质量的结果,而不需要通常的专家调整时间。维度图标的每一个方面-从完全开放的提示和样本访问到预配置的软件设置-都是专门为无故障操作和令人惊讶的AFM易用性而设计的。

最大的灵活性

Icon系统提供了无可妥协的性能、健壮性和灵活性,几乎可以执行以前广泛定制系统获得的所有测量。它利用开放访问平台、大样本或多样本容器以及众多易于使用的功能,为研究和行业打开了AFM的力量,为高质量的AFM成像和纳米操作树立了新标准。

Dimension Icon提供了灵活性,而不会对性能产生任何影响——一个平台,无限的可能性:

  • 修改平台以关联其他技术
  • 用开放的软件和硬件轻松定制你的学习——“如果它不存在,就发明它”
  • 电池,有机太阳能等完整解决方案

左图:手套箱中的AFM-Raman相关图。右图:光导AFM配件。

由NanoScope 6 AFM控制器提供动力


NanoScope 6控制器具有更高的速度,更低的噪声和更大的AFM模式灵活性,允许用户充分利用我们高性能维度和多模式AFM系统的全部潜力。这一最新一代控制器提供了前所未有的精度,精度和多功能性的纳米级表面测量在每个应用程序。

NanoScope 6独特地使布鲁克AFMs:

  • 与竞争系统相比,可以在更多的成像模式下操作,包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
  • 在每一个应用中收集精确、定量的纳米电和纳米力学性能测量数据;和
  • 优化和自定义扫描参数,以满足最苛刻的研究和行业测量要求。

Применения

AFM模式

使用AFM模式扩展应用程序

凭借无与伦比的成像模式套件,布鲁克有一个AFM技术的每一个调查。

基于核心成像模式-接触模式和敲击模式- bruker提供AFM模式,允许用户探测样品的电、磁或材料特性。雷竞技网页版Bruker的创新PeakForce敲击技术代表了一种新的核心成像模式,该模式已被纳入多种模式,可并行提供地形、电气和机械性能数据。

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奖状

倾听客户的意见

布鲁克的维度图标是最可定制和灵活的AFM在地球上。Dimension Icon使我们实验室取得了关键进展,即表面电压显微镜的发展和电荷转移动力学的阐明,这是太阳能燃料光阳极的核心。在这一过程中,我们始终可以依靠布鲁克先进应用团队的出色支持。

范凤涛,中国科学院大连化学物理研究所太阳能研究室组长,催化国家重点实验室副主任,教授

Bruker Icon AFM系统于两年前安装在我们的洁净室设施中,[在那里]作为一种独特的仪器,它能够对许多用户进行低噪声和高分辨率的成像,对许多类型的样品,并具有可靠的性能!ScanAsyst模式将AFM探针保持在良好的状态数周,并允许任何学生独立,并在短暂的培训后开始测量。我们非常满意!

Pasqualantonio Pingue,意大利比萨高等师范学院NEST实验室首席运营官

我们的Dimension Icon系统的新型多功能原子力显微镜通过ScanAsyst和PeakForce QMM揭示了纳米级表面特征和形貌,如附着力和模量。通过结合导电AFM和KPFM函数,可以观察到界面连接和器件特性,帮助我们更详细地了解轮廓形貌和界面状态。此外,Icon的高速和可靠性提供了快速的过程检查和分析。

林云跃,台湾积体半导体制造有限公司

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