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布鲁克的Dimension XR扫描探针显微镜(SPM)系统融合了数十年的研究和技术创新。通过常规的原子缺陷解决方案，以及一系列独特的技术，包括PeakForce敲击®， DataCube模式，SECM和AFM-nDMA，它们提供了最大的性能和能力。Dimension XR系列spm将这些技术打包成交钥匙解决方案，以解决纳米机械、纳米电气和电化学应用问题。在空气、流体、电气或化学反应环境中量雷竞技网页版化材料和活性纳米级系统从未如此简单。
Особенности
所有模式，所有环境的最高分辨率
从液体和硬度图中的点缺陷到空气和电导率图中的原子分辨率，Dimension XR系统在所有测量中都提供最高的分辨率。他们使用布鲁克的专利PeakForce攻实现硬物质和软物质性能基准的技术，包括晶体缺陷分辨率和聚合物中的分子缺陷。雷竞技怎么下载同样的技术在通过数百张图像分辨粗化玻璃上最小的凹凸方面发挥着同样重要的作用。该系统结合了PeakForce攻丝与极高的稳定性，独特的探头技术，以及布鲁克几十年的尖端扫描创新经验。其结果是始终如一的最高分辨率成像，完全独立于样品大小，重量或介质，并适用于任何应用。
革命AFM-nDMA
AFM首次可以在纳米尺度上对聚合物进行完整和定量的粘弹性分析，在线性状态下以流变学相关频率探测材料。雷竞技网页版专有的双通道检测、相漂校正和参考频率跟踪能够在流变学相关的0.1 Hz至20 kHz范围内进行小应变测量，用于直接与批量DMA相关的存储模量、损耗模量和损耗切线的纳米级测量。
专有数据库模式
这些模式利用FASTForce体积在每个像素中执行力距离谱，具有用户定义的停留时间。利用高数据捕获率，在停留时间内执行大量电气测量，从而获得每个像素的电气和机械光谱。DataCube模式在单个实验中提供完整的表征，这在商用AFM中是闻所未闻的。
独家PeakForce SECM
由于空间分辨率小于100纳米，这种模式重新定义了液体中电子和化学过程的纳米级可视化的可能性。PeakForce SECM与传统方法相比，以数量级显著提高了解决能力。这使得能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的全新研究成为可能，为单个纳米颗粒、纳米相和纳米孔的新测量打开了大门。只有，PeakForce SECM能够同时捕获纳米尺度横向分辨率的地形图、电化学图、电学图和机械图。
由NanoScope 6 AFM控制器提供动力
具有更高的速度，更低的噪音，更大的AFM模式灵活性，NanoScope 6控制器允许用户利用我们的高性能尺寸和多模式AFM系统的全部潜力。这个最新一代的控制器提供了前所未有的精度，精度和多功能性的纳米级表面测量在每一个应用。
NanoScope 6独特地使布鲁克原子力显微镜能够:
- 与竞争系统相比，可以在更多的成像模式下操作，包括需要复杂控制和分析的独特和先进的AFM模式;
- 收集准确的，定量的数据，纳米电学和纳米力学性能测量在每一个应用;和
- 优化和定制扫描参数，以满足最苛刻的研究和行业测量要求。
Применения
扩展您的应用程序与AFM模式
凭借一套无与伦比的成像模式，布鲁克为每一项研究都提供了AFM技术。
建立在核心成像模式的骨干-接触模式和敲击模式-布鲁克提供AFM模式，允许用户探测他们的样品的电，磁，或材料属性。雷竞技网页版Bruker创新的PeakForce tap技术代表了一种新的核心成像范例，该技术已纳入多种模式，可同时提供地形、电气和机械性能数据。
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