测试与测量

三维光学剖面仪

全球领先的三维非接触式表面测量和检测技术

概述

快速,非接触式3D光学剖析

Bruker是行业领先的3D表面测量和检测解决方案提供商,提供快速、可靠、易于使用的非接触式分析系统,对从微观MEMS到整个发动机缸体大小的样品具有一流的精度。他们为研发,制造和质量控制领域的研究人员和工程师提供了行业领先的灵敏度和稳定性,用于对其他计量系统具有挑战性的应用和环境中的精密3D表面测量。

基于十代专有Wyko®白光干涉测量(WLI)技术和Bruker先进技术,我们的光学分析测量系统在世界各地的实验室和生产环境中支持领先的研发,QA和QC。

产品

寻找最适合您的3D光学轮廓仪

Применения

应用程序

具有特定应用解决方案的表面独立计量

精密工程

保持精密工程零件的表面纹理和几何尺寸在严格的规格限制内。当您监视、跟踪和评估流程并评估GD&T符合性时,我们的测量系统可提供有效的反馈和报告。

MEMS和传感器

执行高通量,高度可重复的蚀刻深度,薄膜厚度,台阶高度和表面粗糙度测量,以及MEMS和光学MEMS的高级临界尺寸测量。从晶圆到最终测试,甚至通过透明包装,光学剖析可以在整个制造过程中表征设备。

骨科、眼科

在整个产品生命周期中获得植入材料和组件的精确、可重复测量。雷竞技网页版我们的WLI光学轮廓仪支持研发,QA和QC分析,应用范围从透镜和注塑模具的表面参数表征到表面光洁度验证和医疗设备的磨损。

摩擦学

测量、分析和控制摩擦、磨损、润滑和腐蚀对材料/部件性能和寿命的影响。确定定量磨损参数,并在最宽范围的闪亮、光滑或粗糙表面上执行快速通过/失败检查。

半导体

利用自动化、非接触式晶圆级计量系统,提高前端和后端制造过程的良率并降低成本。进行cmp后模具平整度检查;凹凸高度、共面度、缺陷识别与分析;并测量部件结构的关键尺寸。

光学

更好地了解缺陷的根本原因,并通过精确和可重复的亚纳米粗糙度测量优化抛光和精加工工艺。我们的非接触式计量系统能够满足越来越严格的规格和ISO标准,适用于从小型非球面和自由曲面光学器件到具有复杂几何形状的光学元件,再到衍射光栅和微透镜的样品。

资源

白光干涉法

独立于表面特征的精确三维光学计量

通用扫描干涉测量法

自适应表面智能,同时捕捉亚纳米表面纹理和台阶高度

精英增强成像

通过聚焦高保真成像,同时保持高精度WLI计量

观看我们的3D光学轮廓测量在线研讨会

我们的网络研讨会涵盖最佳实践,介绍新产品,为棘手的问题提供快速解决方案,并为新的应用程序、模式或技术提供想法。

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客户支持

服务及支援

我们如何提供帮助?

Bruker与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发新一代技术,帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务继续下去,直到工具出售很久之后。

我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队完全致力于通过系统服务和升级,以及应用程序支持和培训,最大限度地提高您的生产力。

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