contourx - 100光学表面光度仪设定了新的基准,准确和可重复的非接触式表面计量以最佳的价格点。小足迹系统提供了毋庸置疑的2 d / 3 d高分辨率测量功能的简化方案,包含了几十年的专有力量白光干涉法(WLI)创新。下一代增强包括一个新的5像素的摄像头和更新阶段大缝合功能,和一个新的测量模式,USI,为更大的方便和灵活性为精密加工表面,厚的电影,和摩擦学应用程序。你不会找到一个台式系统价值比contourx - 100。
contourx - 100分析器是超过四十年的专有的顶峰光学创新和行业领导非接触式表面计量特性和成像。该系统利用3 d " WLI和2 d成像技术为多个分析在一个单一的收购。contourx - 100是健壮的在所有表面情况下反射率从0.05%到100%。
成千上万的定制的分析和力量的简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面,contourx - 100台式是优化生产力在实验室和工厂。硬件和软件结合streamlined提供高通量光学性能,完全outclassing可比计量技术。