高温下的原位元素测绘

电子显微镜是研究高空间分辨率材料的手段。雷竞技网页版能量色散x射线光谱学(EDS)可以在纳米尺度上绘制元素分布图。最后，使用加热支架或任何其他适合于电子显微镜和能谱仪的原位反应细胞，可以在电子显微镜下监测原位或操作中材料处理的效果。雷竞技网页版这意味着在高空间分辨率下，可以获得结构和元素组成变化的定性和定量信息。

使用野火(来自DENS solutions的基于MEMS的加热支架)和布鲁克(Bruker)在不同的高温下对Pt-Pd测试样品进行了研究QUANTAX EDS系统与XFlash^®6t30探测器在标准扫描透射电子显微镜(STEM)上。探测器用30mm²在使用的STEM中，当起飞角为22°时，活动区域的收集角为0.09 sr。样品夹采用了新的特殊设计，以提高z方向的热稳定性，从而可以在室温到1000°C之间轻松监测相同的样品区域。EDS系统在每个温度步骤中提供了合适的几个最小元素图的绘制次数。
图1显示了Pt-Pd纳米颗粒随温度升高的发展情况。
图2演示了如何使用基于PCA的相分析和面积覆盖来定量监测颗粒数、大小和组成的发展。