LCD屏幕和光电
失效分析
一种CMOS传感器缺陷的FT-IR显微镜分析
由于现代系统高度小型化且由多种材料组成，光电器件的分析相当复杂。雷竞技网页版特别是微观污染的识别是特别感兴趣的，因为它们会导致电子设备的故障。揭示污染的来源，从而允许有效的故障排除是关键应用之一傅立叶变换红外显微镜。
它允许用户获得具有高横向分辨率的非常小的结构的红外光谱，从而揭示样品中特定部分的化学成分。这使得FT-IR成为电子传感器和其他光电子产品质量控制和故障分析不可或缺的工具。它可以帮助表征缺陷，损坏，污染和更多。它甚至可以通过表征红外传感器来刺激产品开发。
质量控制
用拉曼显微镜研究液晶面板内的污染物
显示器、led、lcd和更多的光电部件用聚合物保护层层压或简单地粘在玻璃表面。在这两种情况下，如果材料是透明的，雷竞技网页版共聚焦拉曼显微镜有能力去看吗内部这样的程序集。
通常，颗粒、纤维、灰尘和污垢等非常小的污染物是造成这种损害的罪魁祸首。拉曼显微镜不仅可以发现那些微小的杂质，还可以用化学方法识别它们，从而帮助发现这些产品缺陷的根本原因。使用它进行损伤分析:
- 屏幕和LCD组件
- Touchpanels
- 安装传感器
材料研究
利用FT-IR表征传感器和探测器
如今，探测器无处不在——在智能手机、温度计、相机、电灯开关和许多其他设备中。但在这些探测器开始在我们的日常生活中工作之前，它们必须被彻底地表征和优化。
这就是我傅立叶变换红外光谱仪可广泛应用，检测探测器的三个基本参数:
- 响应光谱带宽(UV/VIS/IR/等)
- 需要辐射能量来回应
- 传感器响应时间
FT-IR在vcsel人脸识别中的应用
垂直腔面发射激光器(VCSEL)是一种特殊类型的半导体激光二极管，与传统的边缘发射激光二极管不同，它垂直于芯片表面发射。这使得它们易于封装成发射器阵列，在单个芯片上有数百个发射器，然后可以放置在智能手机中(例如用于面部识别)。
在VCSELs分析中，傅立叶变换红外光谱与辐照度传感器和快速光电二极管相比，已被证明是一种优越的方法。许多优点之一是可以确定发射光谱。目前，研究的重点是vcsel的表征方法，以支持vcsel在基础研究中的理论建模。你想了解更多吗?
化学成分和微观结构与电学和光电性能的关系
光电器件主要依靠光刺激来产生电脉冲，反之亦然。它们通常用作电子设备中的传感器或探测器。
基于sem的EDS和EBSD技术是常用的分析工具，用于研究化学成分和微观结构与光学、电学和机械性能的相关性，并将其降低到纳米尺度。借助布鲁克的先进解决方案，您可以深入了解WDS, EDS, EBSD和TKD技术定量测量相和取向分布。例如，它允许研究特定晶体取向，应变和晶粒或亚晶粒边界的性质对光电性能的影响。现场相关性研究也可以用Bruker的方法进行QUANTAX EBSD和hyysitron PI系列picindenters
