XFlash®7 - 新一代能谱探头
元素分析
Quantax eds / sem
Sem, fib-sem和epma上的能谱仪
XFlash®7 - 扫描电子显微镜上的能谱仪
更快的分析速度
更全的元素线系
更强的定性能力
优化的结构设计
更高的产出效率
Quantax eds / tem
透射电子显微镜上的纳米尺度元素分析
XFlash®7t -适用于tem, stem和t-sem的能谱探头
使用更高能量的元素谱线，可以对全部元素进行更确定的定性定量分析
基于理论和实验基础的Cliff-Lorimer因子法,改进的ζ-因子法的定量流程成熟易用,在TEM、茎和T-SEM上都经过了长时间的验证
专门的漂移校正功能使周期性结构 （原子排列或多层结构）的元素面分布更加稳定，可以媲美非周期性样品
