扩展你与Micro-XRF SEM扫描电镜的功能

数组不同的分析技术获得的地球化学信息存在小范围代表单矿物的阶段。最常见的分析技术是基于电子束(电子束)的来源,即一个电子探针显微分析仪(电子探针)或扫描电镜的能量色散光谱仪(能谱)。

同样,Micro-XRF分析可以被视为一种互补技术电子束激发,也提供小区域样本信息。Micro-XRF基于光子激发,将样品直接兴奋与x射线(X-Ray-beam),而传统的基于电子束系统相比具有明显的差异。现代x射线polycapillary光学的可用性使能力聚焦x光的光斑尺寸小于30µm,以及所有包含在XTrace光谱仪来源,可以安装在一个可用的SEM端口(图1)。这导致显微镜系统与双光束潜在即电子束和x射线光束。因此,因此可能操作Micro-XRF系统使用类似的参数作为一个电子束系统,从而产生结果可比性与传统点能谱分析,同时从X-Ray-beam样本获得额外的信息交互。

每个电子束和X-Ray-beam技术有隐含的优势和局限性,尤其是分析体积和检测极限,以及样品的相互作用。这个网络研讨会比较这些不同的技术对空间分辨率和灵敏度分析点,线扫描和区域地图使用各种地质实例(如火山标本(图2),地幔捕虏和捕获晶,陨石,Exotic-Cu存款,在别人演示Micro-XRF结合能谱扩展了系统的分析功能。

这个研讨会将得出一个15分钟的问答环节,我们的专家会回答你的问题。

• 研究人员在地质科学和采矿
• 科学家感兴趣的分析领域Micro-XRF SEM技术´s

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