快速精确量化结果使用自然硅钻探器:Bruker的XFlash平面QUAD
即时会议-50分钟
扫描电波显微镜中分散能量X射线谱
硅漂移检测器已成为分散能量X射线光谱学标准仪表EDS系统使用扫描电子显微镜和电子探针微分析器废版SDDXFlash应用®扁平QUAD独有SDD插入极块和样本间,而不是嵌入SEM倾斜端口因此,它有大固态角(1.1sr),通常比传统构造中使用10mm2SDD可用固态角大100倍X射线从四个分离检测器段收集,信号由四个检测单元并行处理,允许低死时高计率,结果输出计数率最大为2400 000多分/秒高速映射和快速光谱采集
网络研讨会使用实例XFlash应用®扁平QUAD快速可靠的量化结果,包括标准基础和标准免费量化方法。结果将使用其他分析技术与已知发布结果作比较。此外,高速映射实例将展示,例如高地形波段敏感样本或如何用分钟绘制全薄段
由谁处理
- 科学家来自对EME技术感兴趣的所有分析领域
- 研究地形复杂三维敏感样本
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单片X射线强度图 garnet-chromite从南非新兰金伯利特2.5cmx2.0cm
讲演者
maxPatzschke
应用科学家EDSBrukernao分析
博士安德鲁门西斯
高级应用科学家地质挖掘学Bruker Nano分析
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