新!没有窗户的高角EDS检测器集合与100毫米²椭圆形硅漂移探测器

我们宣布释放一个新的大量角EDS检测器和一个椭圆形状的SDD面积100平方毫米,XFlash^®6 t - 100椭圆形TEM和茎XFlash^®6 - 100椭圆形的SEM和T-SEM。

这个研讨会将通知探测器特性,具体的显微镜探测器几何图形以及相应的数据采集和分析。定性和定量元素映射为不同的大量角EDS设置(图1、2)解释和相关标准EDS获得的结果。

探测器已被证明提供收集的角度老0.4至0.7之间高起飞角度约12°sr TEM /阀杆和角度0.4 sr SEM的集合。的极片为每个特定的显微镜探测器几何优化输入与显微镜厂家的合作。这允许快速和常规元素映射在纳米尺度显微镜性能的前提下,合适的电子探针质量和提供的样品制备。在抑制原子列EDS(图3,[1])以及单原子识别[2]成为可能。

[1]直接原子尺度磁离子测定在室温多铁性材料分区l·基尼et al .,科学报告7,文章编号:1737(2017),开放获取

[2]个人杂原子与x射线光谱识别r·m·斯特劳德et al ., 108年APL, 163101(2016),开放获取

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