文化遗产在显微镜下:先进的细节元素分析扫描电子显微镜

高空间分辨率的分析扫描电镜分析工作流程的一个基本组成部分和必要的任何完整的艺术作品和文化遗产调查对象。调查开始于宏观尺度,非侵入性技术micro-XRF映射允许进行SEM分析最小的样本比外科医生的精准度对最大化的结果。此外,探测器技术的进步使得元素描述通过SEM更快更高灵敏度减少额外的破坏有价值的材料,同时提供灵活的配置,比以往任何时候都更容易。雷竞技网页版

这次研讨会将使用扫描电镜微观分析文化遗产样品的例子,说明力量的能力XFlash®探测器范围,包括XFlash^®FlatQUAD环形SDD EDS探测器,QUANTAX紧凑EDS探测器为紧凑的SEM平台,XTrace in-SEM micro-XRF(QUANTAX Micro-XRF)。