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电子显微镜分析仪
QUANTAX改进算法
波长分散x射线光谱:终极的分析精度和准确性
低元素x射线能量范围的质量性能
高分辨率、高灵敏度和低检测限制
亮点
~ 4
电动汽车
Si-Kα的FWHM
超过eds能量分辨率一个数量级的卓越能量分辨率
< 100
ppm
许多元素的检测限
痕量元素分析的高精度和高准确性
> 900
cps / nA
80 Å厚多层结构中c-kα的计数率
低能量x射线的高灵敏度
补充您的sem:使用电子探头微分析仪的好处
用于扫描电镜的QUANTAX WDS由XSense波长分散光谱仪组成,在所有平行光束WDS系统中实现最佳分辨率。与基于罗兰圆的改进光谱仪相比,QUANTAX WDS由于平行光束设计,可以实现大固体角采集,为低能X射线提供更高的信号强度
WDS通过抑制背底辐射的独特二次光学器件进一步增强信噪比
QUANTAX WDS配备最好的掠入角光学元件和多达六个分析晶体,对70年电动汽车以上的低能量X射线具有卓越的灵敏度
巧妙的自动光学对准系统和独特的压力控制比例计数器可确保准确且可重复的结果
灵活适应WDS或eds端口
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优势
Sem上的WDS -满足苛刻分析应用的完美解决方案
解决常见的EDS峰值重叠,如Ta-W-Si, Pb-S或Mo-S
探索感兴趣的元素的低能x射线线系(l, m, n)
研究低加速电压的样品,确保电子束穿透深度最小
获得最高的cps/nA,因为高固体角使轻元素在整个浓度范围内从为到F进行表征
得到远远低于eds检测限值的痕量
元素浓度
可以在低真空下测量,无需导电涂层
使用独特的压力控制比例计数器,节省分析测量时间
确保光谱数据的空间精度,进行精确定量
通过同时进行WDS和eds分析,将每个探测器的优势整合到组合定量中,节省采集时间
阅读更多关于esprit 2软件
应用
您的分析挑战是什么?
使用WDS进行宝石分级和纯度控制
宝石及其替代品的纯度控制可以通过sem完成。使用布鲁克超灵敏波长色散光谱仪(wds)可以实现高能量分辨率分析,可检测和识别宝石中的杂质。
阅读更多
半导体微芯片材料的元素识别
由于WDS技术具有超高能量分辨率,不同元素的重叠谱峰可以被完美剥离。因此,wds可以准确识别半导体材料中的元素。
阅读更多
斜长石中痕量元素的面分布
在sem上使用布鲁克的超敏感波长色散光谱仪(wds),可以轻松确定矿物样品中痕量元素的分布。
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解析硫化物矿物中的x射线重叠峰
方铅矿是成分主要为PbS的硫化矿物,它常常以立方晶型结晶。
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铅酸电池的硫酸盐变化
使用sem中的波长色散光谱仪(wds),可以准确测定电池中化学相,并且给出化学相的分布信息。
阅读更多
钢铁中碳的分布图
WDS技术是理想的基于sem的分析技术,用于精确测量钢中的碳含量并绘制其分布图。
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网络研讨会
网络研讨会
点播- 65分钟
利用QUANTAX WDS进行半导体和微电子的先进元素分析
我们将讨论WDS用于SEM分析半导体和相关高科技工业产品(如微电子)的优势。
点播会议- 39分钟
扫描电镜WDS轻元素测定
在本次网络研讨会中,我们将展示在矿物、玻璃、钢和二元化合物等天然和合成样品中轻元素测定的应用实例。网络研讨会还将包括Bruker的软件套件ESPRIT中的WDS功能演示。
按需会话- 55分钟
用双源多探测器系统定量钢和合金。第二部分:SEM-WDS加入XRF-EDS和SEM-EDS分析
这个由两部分组成的网络研讨会将展示使用双束系统的好处,即同时拥有电子和微xrf源的系统。第二部分比较了在第一部分中获得的EDS结果与在同一系统上使用WDS收集的测量结果。
新闻与活动
更多信息
资源
手册和应用说明
QUANTAX WDS XSense Flyer EN
电子显微镜分析仪EDS, WDS, EBSD, SEM Micro-XRF
upgrade-esprit-win10-flyer-en-BRUKER.pdf
QUANTAX-WDS-Application-Note-WDS-04-Trace-elements-steel-EN-BRUKER.pdf
QUANTAX-WDS-Application-Note-WDS-03-Strontium-in-plagioclase-EN-BRUKER.pdf
QUANTAX-WDS-Application-Note-WDS-02-Analysis-lead-batteries-EN-BRUKER.pdf
QUANTAX-WDS-Application-Note-WDS-03-Strontium-in-plagioclase-EN-BRUKER.pdf
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