微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)

M6的地方

高分辨率大面积微区xrf成像光谱仪

移动式微区xrf元素成像光谱仪

超快元素成像

亮点

2 × 60
平方毫米
SDD面积
双硅漂移探测器,可快速获取样品元素信息
80 × 60
平方厘米
可扫描面积
单次面扫描最大面积
100 - 500
μm
可调节光斑大小
五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品

最先进的大面积微区xrf元素成像技术

微区光谱仪(也称为macroXRF或MA-XRF)分析,已成为表征绘画,地质样品,考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6喷气流以最高速度和精度进行微区x荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架,使得M6的地方可在现场使用,无需将部分无法运输样品送至实验室检测。

  • 垂直样品或水平表面的测量
  • 单次描面积高达800 × 600mm2
  • “在飞行”分析,以达到最高的面扫描速度
  • 可调节光斑大小以匹配样品尺寸
  • XFlash®SDD技术,具有2 × 60 mm2的探测器面积
  • 可选自动对盘及成交系统系统, 以对不平整表面聚焦

优势

M6喷气流能够帮您获得那哪些信息?

李金华等,尖齿恐龙甲年华龙腾gi的显微xrf研究揭示了新的生物学和埋藏信号,原子光谱学2021 42(1)
  • 获取任意平面内元素的空间分布信息
  • 在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息
  • 将高分辨率光学图像与光谱存储在一个“HyperMap”数据集中
  • 从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析
  • 使用无标准基本参数(fp)方法定量分析光谱数据
  • 设备可在现场进行检测,能够有效降低成本节约时间,并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏
发现广泛的micro - xrf样品

技术参数

技术参数

高达100mm /s平台移动速度 面扫描以“赶路”方式进行,单个像素点停留时间可低至1毫秒

30mm2或60mm2 SDD,≤145ev M6的地方可配备不同的力量XFlash (R)探测器,所有探测器分辨率均在Mn Kα≤145 eV

测量模式下的倾斜角度可为±10° 设备除了支持在水平和垂直方式测试外,设备还可以精细倾斜角度,以适应不同角度样品测试

新闻与活动