孔径管理系统(ams)

micro-XRF的一个关键优势是基本无需样品制备。然而，在测试中需要尽量选择平整平面聚焦测试。许多样品表面并非完全平整，也不能改变破坏（如重要历史文物）。对于具有表面不平整样品进行定性分析（例如面扫描或线扫描），部分表面会在焦点平面之外，无法聚焦。孔径管理系统(ams)旨在增加景深。就像光学成像一样，镜头前的光圈会增加景深，但原因却大相径庭。因此，即使对于表面起伏较大的样品，大多数结构仍然可实现聚焦，即在焦点平面内进行测试。