Anasys nanoIR3-s纳米扫描近场光学成像系统
高性能的s-SNOM和AFM成像
亮点
Anasys nanoIR3-s
布鲁克Anasys的nanoIR3-s系统将散射扫描近场光学显微镜(s-SNOM),纳米级红外光谱(AFM-IR)与原子力显微镜(AFM)完美整合到单一平台。依托Anasys技术在AFM纳米光学表征方面的领先地位,nanoIR3-s可提供纳米级红外光谱,化学成像和光学成像,在2 d材料样品上实现10纳米空间分辨率。该系统还可以提供达到纳米级分辨率的AFM形貌和性能成的像,因此是对各种材料科学应用开展相关性研究的理想仪器。
宽带
纳米ftir光谱
可用于开展以前无法实现的飞秒纳米级红外研究。
互补性
s-SNOM和AFM-IR技术
单一平台实现纳米级化学成像和光学成像。
高分辨率
原子力显微镜
提供相关的电学、机械性能和热物性数据。
10nm空间分辨率化学成像和光谱
石墨烯等离子体
石墨烯等离子体:石墨烯楔上表面等离极化激元(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。(左图)s-SNOM相位与SPP驻波线型截面;(右图)s-SNOM振幅。上图是相位图的3d视图(左图)。
高分辨性能成像
高分辨性能成像:通过石墨烯片的横截面显示了10nm以下分辨率的光学属性成像。
高性能纳米级ftir光谱
超快宽带s-SNOM光谱，探测分子振动信息。聚四氟乙烯(ptfe)激光干涉图显示，时域(上图)内发生自由感应衰减形式的相干分子振动。样品干涉图中突出显示特征的形成原因是,氟模式的对称模式和反对称模式在所产生的频域跳动(左下图)。单层pNTP(右下图)上展示了纳米级FTIR的单层灵敏度。数据提供:Markus Raschke教授，美国科罗拉多大学博尔德分校。
只有nanoIR3-s能够提供:
- 高性能纳米级ftir光谱
- 高性能红外近场光谱，采用目前最先进的纳米红外激光源
- 纳米级ftir光谱，采用集成式dfg，可与宽带同步辐射光源集成
- 适用于光谱和化学成像的多芯片QCL激光源
点光谱技术
POINTspectra激光器可执行多个波长的光谱分析和高分辨光学成像。nanoIR3-s让测试更加简单:
- 在afm图像中选择要测量的特征
- 测量样品的波谱，选择感兴趣的波长
- 采集高分辨光学属性图
根据对多个波长的干涉图的快速测量,获得空间分辨率达到10 nm的振幅和相位图像实现10 nm分辨率攻AFM-IR,用于独特的互补性红外光谱分析。
