2d材料和纳米光子
独特的功能，以特征纳米级光学，化学和材料性能的新二d和量子材料
2d材料和纳米光子为各种新应用提供了令人兴奋的材料研发领域。nanoIR3-s散射SNOM (s-SNOM)平台提供了独特的功能，能够描述各种新型二维和量子材料的纳米级光学、化学和材料特性。应用包括：
- 表面极性
- 2d材料，包括石墨烯
- 纳米光子
- 光学天线
- 纳米级光学特性
hbn声子-极性
六边形氮化铀(hBN)表面假星极性(SPhP)的纳米成像。(a) AFM高度图像,显示在硅基板上具有不同层的均匀hBN表面;(b) s-SNOM振幅显示由于沿hBN表面传播SPhP而导致的强干扰边缘;(c) s-SNOM相位显示具有交替层厚度的差异相位。图像(b)和(c)显示各层中SPhP不断变化的波长。
石墨烯
石墨烯楔子上的表面极性(SPP)的s-SNOM相位和振幅图像。3 d视图相位图像(左图),s-SNOM相位图像中(图),具有SPP站立波的线横截面和s-SNOM振幅图像(右)。
2d元材料
将S-SNOM和AFM-IR相结合,创造出非凡的新数据:互补的AFM-IR和散射SNOM图像首次揭示了光学奇性在表面结构上的微尺度起源。通过访问关于质的结构的辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)信息,可以获得独特且互补的质质属性.Khanikaev等人,Nat.Comm.7, 12045 (16) .Doi: 10.1038 / ncomms12045阅读更多
纳诺坦特斯
nanoIR3-s提供s-SNOM振幅(底部);s-SNOM相(顶部)nanoIR3-s使用s-SNOM模式与POINTspectra CW QCL激光源。
纳米ftir光谱
超快宽带散射snom光谱探测分子振动信息。聚四氟乙烯(ptfe)的激光干涉图显示时域中自由感应衰变形式的相干分子振动(顶部)。样品干涉图中突出显示的特征是由于在生成的频域(左下)中c-f模式的对称和反对称模式的跳动。在单层pNTP(右下)上演示了纳米FTIR的单层灵敏度。数据由美国博尔德科罗拉多大学的马库斯·拉施克教授提供。
纳米ftir光谱
AFM-IR光谱和溶液处理的CH₃NH₃PbI₃光电检测器的图像收集为沉积(c, d)和退火后在140°c (e, f)。高度图像(上行)和相应的AFM-IR图像(下行)。图片由董，R.，方等人提供，(2015年)，Adv.Mater.，27:1912-1918年。
多层尼龙和pe样品的s-snom成像
s-SNOM可用于测量多层聚合物薄膜。在这里，尼龙的吸收带为1640和1540厘米。随后在1640厘米时进行s-SNOM成像示例由DSM提供。
