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该技术提供有关金属化尖端下样品纳米级区域的复杂光学特性的信息。具体来说,可以测量散射光的光学振幅和相位。
(n, k)。此外,光相与波长的近似值与通常放牧发生率的传统红外吸收光谱相约。
s-SNOM技术适用于各种材料,但噪声的最佳信号往往适用于反射率高,介电常数高和/或强光共振的较硬材料。
石墨烯
高分辨率属性映射
性能最高的红外SNOM光谱仪,提供最先进的nanoIR激光源。
这是一个非常好的例子。通过访问关于质的结构的辐射(s-SNOM)和非辐射(AFM-IR)信息,可以获得独特且互补的质质属性。